-
Nous développons des programmes de test Boundary Scan sur station Diatem
ANTEST vous propose des développements de test Boundary scan de cartes électroniques avec :
- Test d’intégrité de chaînes de composants Boundary Scan
- Test de clusters de base (SDRAM, SSRAM, SRAM, DDR2SDRAM, FIFO, FLASH, composants SPI, I2C)
- Programmation de composants PLD, Flash, NandFlash, Flash SPI, EEPROM SPI ou I2C
- Test de connecteurs par bouclage sur des cartes Extensions IO
- Possibilité de tests analogiques par modules d’extensions
- Test de clusters spécifiques écrits en langage TCL
Nous intégrons également la solution Boundary Scan Test sur les testeurs in situ AGILENT 3x7x, TERADYNE SPECTRUM 88xx et GR228x et IFR4220.
Cette méthode de test utilise la technologie DCOM afin d’interfacer les logiciels de tests.
Nous intégrons également la solution Goepel sur les même testeurs.
Solutions proposées :
- Etude de testabilité
- Réalisation d’interfaces spécifiques
- Développement du programme de test
- Assistance technique
- Centre de formation
Antest est partenaire avec TEMENTO SYSTEMS
