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  • TEST IN SITU

    Le test IN SITU (In Circuit Test) est une des technologies de test la plus complète et la plus rapide pour le contrôle de carte électronique… en industrie, elle est la technique reine sur les lignes d’assemblage. C’est une méthodologie qui est implantée depuis de très nombreuses années et qui a donc fait ses preuves. Les avantages du test in situ sont un taux de couverture très élevé, un diagnostic précis et une vitesse de test adaptée aux forts volumes de production. Ses limitations résident principalement dans son interface de test, ou lit à clous.

    Nous vous proposons une offre riche et personnalisable sur nos testeurs:


    AGILENT 3070, TERADYNE TS124LH (Genrad), TERADYNE SPECTRUM
    TERADYNE Z1800 et AEROFLEX 4220 (IFR).

    Nos solutions pour le Test In Situ :

    A l’aide des donnés à nous fournir de la carte à tester :

    • CAO
    • Schémas
    • Nomenclature
    • Cahier des charge / Spécification de test

    Nous vous accompagnons dans vos projets et pouvons vous assurer les services tels que :

    • Etude et développement de programmes, à partir de vos données schéma, BOM, cahiers des charges, CAO (CADENCE , MENTOR, PADS, PCAD …) à l’aide de nos outils TECHNOMATIX UNICAM (FABMASTER ) ou TERADYNE D2B.
    • Etude et design d’interfaces de test ainsi que fourniture de dossiers techniques.
    • Ecriture de modèles de test pour composants spécifiques (ASIC, FPGA …).
    • Lancements et suivis des interfaces avec notre partenaire And-Elec.
    • Mise au point des programmes de test dans nos locaux ou sur votre site.
    • Développements de tests fonctionnels sur testeur In Situ (double niveau, connecteurs…) en fonctions de vos spécifications.
    • Développements de modèles de test Boundary Scan (Basic Scan, Victory…).
    • Programmations de FLASH, EPLD, FPGA, EEPROM, MICROCONTROLEUR par testeur ou via des programmateurs dédiés.
    • Intégrations de test Boundary Scan en dynamique avec les solutions Diatem de TEMENTO et Cascon de GÖPEL electronic.
    • Créations de logiciels spécifiques avec LabWindows CVI, Visual Studio, Labview (Exemples : DLL, pilotage d’appareils IEEE, VXI, PXI…, IHM, PV de tests, etc.).
    • Optimisations des programmes de test : couvertures, répétabilités et temps de test.
    • Livraisons et recettes sur site Bretagne, France, Europe et International.
    clous

    Test EXPERT pour bandeau autre prestation

    ANTEST, un partenaire disponible à l’écoute permanente de vos besoins !

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